Статьи
Температурные зависимости гальваномагнитных коэффициентов тонких пленок висмут-сурьма 0-15 ат.% Sb на подложках с различным температурным расширением
В. М. Грабов, В. А. Комаров, Е. В. Демидов, С. В. Сенкевич, А. В. Суслов, М. В. Суслов
Цена: 50 руб.
В работе представлены результаты систематического исследования гальваномагнитных свойств тонких пленок в условиях плоскостной деформации, вызванной различием температурного расширения материалов пленки и подложки.
Получены данные о структуре и гальваномагнитных свойствах блочных тонких
пленок на подложках с различным температурным расширением. Обнаружено,
что деформация плоскостного растяжения приводит к уменьшению концентрации носителей заряда, в то время как деформация плоскостного сжатия – к
увеличению. Увеличение коэффициента температурного расширения материала
подложки приводит к увеличению энергетического перекрытия экстремумов
валентной зоны и зоны проводимости. Обнаружено симметричное расположение потолка валентной зоны и дна зоны проводимости относительно уровня
Ферми для тонких пленок состава Bi95Sb5.
Ключевые слова: висмут-сурьма; тонкие пленки; гальваномагнитные свойства; зонная структура; плоскостная деформация; механические напряжения.
REFERENCES
1. Kablukova, N.S., Komarov, V.A., Demidov, E.V. & Khristich, E.E. The influence of thermal expansion of the substrate material on the transport phenomena in block
and single-crystal films of bismuth-antimony. Izvestia: Herzen University Journal. 2012,
Vol. 153, no. 2, pp. 13–19. (rus)
2. Grabov, V.M., Komarov, V.A., Demidov, E.V., Suslov, A.V. & Suslov, M.V.
Galvanomagnetic properties of Bi95Sb5 thin films on substrates with different thermal
expansions. Technical Physics Letters. 2018, Vol. 44, no. 6, pp. 487–490. doi:10.1134/
S1063785018060056
3. Komarov, V.A., Suslov, A.V., & Suslov, M.V. Galvanomagnetic properties of
Bi85Sb15 thin films on different substrates. Semiconductors. 2017, Vol. 51, no. 6,
pp. 702–705. doi:10.1134/S1063782617060173
4. Grabov, V.M., Komarov, V.A. & Demidov, E.V. Atomic-force microscopy of bismuth films. Physics of the Solid State. 2008, Vol. 50, no. 7, pp. 1365–1369. doi:10.1134/
S1063783409040362
5. Grabov, V.M., Komarov, V.A., Demidov, E.V. & Klimantov, M.M. Atomicforce microscopy of bismuth film defects decorated by oxidation. Physics of the Solid
State. 2009, Vol. 51, no. 4, pp. 846–848. doi:10.1134/S1063783409040362
• "Университетский научный журнал"
• Журнал "Научное мнение"
• Журнал "Научное мнение. Экономические, юридические и социологические науки"
• В помощь автору
• Этические принципы научных публикаций
• Отзывы
