П. П. Серегин, А. В. Марченко, Ф. С. Насрединов, А. Н. Раснюк
Цена: 50 руб.
Для определения состава бинарных и тройных халькогенидных стекол использован метод рентгенофлуоресцентного анализа (РФА). Количественный состав стеклообразных сплавов Ge1–tSet, As1–tSet, GezAssSep and TezAssSet (где z = 1–s –p) определялся путем измерения рентгенофлуоресцентных спектров стандартов. Были установлены корреляционные соотношения между атомными долями индивидуальных компонент сплавов и относительными интенсивностями их в
РФА спектрах. Эти корреляции позволяют определить состав стекол с точностью ± 0.0002 для s, t и z для бинарных стекол и с точностью ± 0.0005 для тройных стекол. Однако для стеклообразных сплавов типа TezAssSet оказывается невозможным определить содержание теллура в связи с тем, что компоненты сплавов имеют существенно различные рентгеноспектральные характеристики.
Ключевые слова: халькогенидные стекла, рентгенофлуоресцентныйанализ,
метод стандарта.
REFERENCES
1. Bordovsky, G.A., Marchenko, A.V., Seregin, P.P., Smirnova, N.N., & Terukov, E.I.
Quantitative X-ray fluorescence analysis of As-Se glasses and films. Technical Physics Letters. 2009, Vol. 35, no. 11, pp. 1032–1035. doi:10.1134/S1063785009110182
2. Bordovsky, G.A., Marchenko, A.V., Seregin, P.P., Smirnova, N.N., & Terukov, E.I. Determination of the composition of binary chalcogenide glasses by X-ray
fluorescence analysis. Semiconductors. 2010, Vol. 44, no. 1, pp. 24–27. doi:10.1134/
S1063782610010021
3. Bordovsky, G.A., Gladkikh, P.V., Eremin, I.V., Marchenko, A.V., Seregin, P.P.,
Smirnova, N.N., & Terukov, E.I. X-ray fluorescence analysis of the composition of AsGe-Se glasses and films. Technical Physics Letters. 2011, Vol. 37, no. 3, pp. 250–252.
doi:10.1134/S1063785011030199
4. Bordovsky, G.A., Marchenko, A.V., Nikolaeva, A.V., Seregin, P.P., &
Terukov, E.I. Determination of the composition of multicomponent chalcogenide
semiconductors by X-ray fluorescence analysis. Semiconductors. 2014, Vol. 48, no. 2,
pp. 257–262. doi:10.1134/S1063782614020055
5. Terukov, E.I., Seregin, P.P., Marchenko, A.V., Zhilina, D.V., & Bobokhuzhaev, K.U. X-ray fluorescence analysis of Ge1–xSex, As1–xSex, and Ge1– x–yAsySex
glasses using electronic excitation. Semiconductors. 2015, Vol. 49, no. 10, pp. 1352–
1356. doi:10.1134/S1063782615100255
