С. Л. Максименко, О. В. Мамутова, А. С. Филиппов, В. Ф. Мелехин
Цена: 50 руб.
Рассматриваются особенности организации проектирования вычислительных систем с повышенными требованиями к безопасности и надежности. В рассматриваемых системах для повышения безопасности и надежности
используется структурная, информационная и временная избыточность, а также методы и средства восстановления информации при возникновении сбоев (восстанавливаемых отказов) и средства сбора статистических данных о сбоях. Предлагаются новые модели анализа надежности и подходы к синтезу структур системы, основанные на анализе цикличности процессов в узлах системы на разных уровнях.
Ключевые слова: отказо устойчивость, структурная избыточность, самовосстановле-
ние, надежность,одиночные сбои.
REFERENCES
1. Polian, I., Hayes, J.P. Selective hardening: toward cost-effective error tolerance.
IEEE Design and test of computers, 2011, 54–62.
2. Platzker, D., Mohsen, E. Using FPGA synthesis to protect against radiation effects
and soft errors. Mentor graphics white paper, 2011.
3. Maximenko, S.L., Melekhin, V.F. Reliability Analysis of Digital Devices with
Structural Redundancy and Periodic Operational State Recovery of Functional Nodes.
Information and Control Systems, 2013, 3, 16–22.
4. Maximenko, S.L., Melekhin, V.F. Analysis of Reliability of Functional Nodes
of Digital VLSI Circuits with Structural Redundancy and Periodic Operational State
Recovery. Information and Control Systems, 2013, 2, 18–23.
5. Edmonds, L.D. et al. An introduction to space radiation effects on microelectronics.
JPL publication 00-06, 2000.
6. Rao, R.R., Chopra, K., Blaauw, D.T., Sylvester, D.M. Computing the soft error
rate of a combinational logic circuit using parameterized descriptors. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2006, vol. 26 (3), 468–479.
7. Hass, K.J., Ambles, J.W. Single event transients in deep submicron CMOS. 42nd
Midwest Symposium on Circuits and Systems, 2000, vol. 1, 122–125.
8. Benedetto, J.M. et al. Variation of digital SET pulse width and the implications
for single event hardening of advanced CMOS processes. IEEE transactions on Nuclear Science, 2005, vol. 52, 2114–2119.
9. Glukhih, M.I. Development of synthesis methods for application specific
information and control systems with structural redundancy. PhD Thesis. 2006.
10. Abraham, J.A., Siewiorek, D.P. An algorithm for the accurate reliability
evaluation of triple modular redundancy networks. IEEE Transactions on Computers,
1974, vol. C-23 (7), 682–692.
